英睿达和三星部分加密固态硬盘存在关键安全漏洞

2018-11-09 04:52 来源:星空观察网

【环球网科技综合报道】来自荷兰奈梅亨大学的研究者发现,英睿达和三星部分固态硬盘产品,,即便使用了硬件加密,也可以通过逆向编译固件骗得JTAG调试接口的信任,从而轻松绕过,导致用户数据资料泄露。

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“我们发现研究中的固态硬盘存在关键安全漏洞。”研究人员说。

据了解,受到影响的固态硬盘包括英睿达的MX 100、MX 200、MX 300,三星的T3、T5、840 EVO、850 EVO等等,与此同时,其他型号或者品牌的固态硬盘也有可能受到影响。研究者还表示,部分超级管理员密码为空或者验证机制存在问题,无论使用哪种字段都能够轻松进入目录读取硬盘的信息。

对此,研究人员的建议是使用开源的VeraCrypt加密,而不是个性化的专有加密,包括微软的BitLocker。

目前,英睿达和三星部分固态硬盘已经通过固件更新填补漏洞,而三星840 EVO和850 EVO则是选择临时有线选择软件加密。

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